Optical and morphological properties of Cu2FeSnS4 chalcogenide films

Basit Öğe Kaydı
dc.authorid0000-0003-4771-816Xen_US
dc.authorid0000-0002-8122-6671en_US
dc.contributor.authorAva, Canan Aytuğ
dc.contributor.authorBaturay, Şilan
dc.date.accessioned2023-11-01T12:46:16Z
dc.date.available2023-11-01T12:46:16Z
dc.date.issued2023en_US
dc.departmentDicle Üniversitesi, Fen Bilimleri Enstitüsü, Fizik Ana Bilim Dalıen_US
dc.description.abstractAbstract: P-type Cu2FeSnS4 (CFTS) and Cu2ZnSnS4 (CZTS) quaternary chalcogenide films have been grown by the method of spin coating on glass substrates relate to 30 and 40 sccm sulfur flux. Physical properties of obtained samples were investigated by X-ray diffraction (XRD), scanning electron microscopy (SEM), atomic force microscopy (AFM) and ultraviolet visible spectroscopy (UV-Vis) to see the effect of deposition parameters on the thin film. The crystal parameters including crystal size, dislocation density and strain value of the samples were changed related to the deposition parameters. XRD results indicated an improvement of the crystalline quality of quaternary chalcogenide CFTS with a maximum crystal size of about 50 nm for (112) peak orientation. SEM images illustrated that the particle size was changed with an increase in the flux of sulfur, which was confirmed with both XRD and AFM images. It was seen that the absorption and energy band gap value of the samples changed the effect of sulfur flux and CZTS film for 40 sccm exhibited more strong absorption all samples in the UV-Vis region. The band gap values of the samples were calculated 1.51, 1.53, 1.82 and 1.91 eV for CZTS (30 sccm), CZTS (40 sccm), CFTS (30 sccm) and CFTS (40 sccm) films annealed H2S gas, respectively.en_US
dc.description.abstractÖz: P-tipi Cu2FeSnS4 (CFTS) ve Cu2ZnSnS4 (CZTS) kuaterner kalkojenit filmler, 30 ve 40 sccm kükürt akışıyla ilgili cam alt-tabakalar üzerinde döndürmeli kaplama yöntemiyle büyütülmüştür. Elde edilen numunelerin fiziksel özellikleri, X-ışını kırınımı (XRD) ölçüm sistemi, taramalı elektron mikroskobu (SEM), atomik kuvvet mikroskobu (AFM) ve ultraviyole görünür (Uv-vis) spektrofotometre ölçüm sistemi ile araştırılarak ince filmlerin biriktirme parametrelerinin etkisi incelenmiştir. Numunelerin kristal boyutu, dislokasyon yoğunluğu ve gerinim değeri gibi kristal parametreleri biriktirme parametrelerine bağlı olarak değişmektedir. XRD sonuçları, (112) pik yönelimi için yaklaşık 50 nm maksimum kristal boyutu ile kuaterner kalkojenit CFTS'nin kristal kalitesinde bir gelişmeyi gösterir. SEM görüntüleri hem XRD hem de AFM görüntüleri ile teyit edilen, kükürt akışındaki artışla parçacık boyutunun değiştiğini göstermektedir. Örneklerin absorpsiyon ve enerji bant aralığı değerinin kükürt akışının etkisini değiştirdiği ve 40 sccm için CZTS filmi, Uv-vis bölgesindeki tüm numunelerden daha güçlü absorpsiyon göstermiştir. Örneklerin bant aralığı değerleri, H2S gazında tavlanan CZTS (30 sccm), CZTS (40 sccm), CFTS (30 sccm) ve CFTS (40 sccm) filmler için sırasıyla 1.51, 1.53, 1.82 ve 1.91 eV olarak hesaplanmıştır.en_US
dc.identifier.citationAva, C. A. ve Baturay, Ş. (2023). Optical and morphological properties of Cu2FeSnS4 chalcogenide films. Yüzüncü Yıl Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Dergisi, 28(1), 48-59.en_US
dc.identifier.doi10.53433/yyufbed.1122310
dc.identifier.endpage59en_US
dc.identifier.issn1300-5413
dc.identifier.issn2667-467X
dc.identifier.issue1en_US
dc.identifier.startpage48en_US
dc.identifier.trdizinid1167750
dc.identifier.urihttps://search.trdizin.gov.tr/tr/yayin/detay/1167750
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/11468/13019
dc.identifier.urihttps://search.trdizin.gov.tr/yayin/detay/1167750
dc.identifier.volume28en_US
dc.indekslendigikaynakTR-Dizin
dc.institutionauthorAva, Canan Aytuğ
dc.institutionauthorBaturay, Şilan
dc.language.isoenen_US
dc.publisherYüzüncü Yıl Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsüen_US
dc.relation.ispartofYüzüncü Yıl Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Dergisi
dc.relation.publicationcategoryMakale - Uluslararası Hakemli Dergi - Kurum Öğretim Elemanıen_US
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessen_US
dc.subjectCrystal sizeen_US
dc.subjectOptical propertiesen_US
dc.subjectSpin coatingen_US
dc.subjectThin filmen_US
dc.subjectİnce filmen_US
dc.subjectKristal boyuten_US
dc.subjectOptik özelliklerien_US
dc.subjectSpin kaplamaen_US
dc.titleOptical and morphological properties of Cu2FeSnS4 chalcogenide filmsen_US
dc.titleOptical and morphological properties of Cu2FeSnS4 chalcogenide films
dc.title.alternativeCu2FeSnS4 kalkojenit filmlerin optik ve morfolojik özelliklerien_US
dc.title.alternativeCu2FeSnS4 kalkojenit filmlerin optik ve morfolojik özellikleri
dc.typeArticleen_US

Dosyalar

Orijinal paket
Listeleniyor 1 - 1 / 1
Küçük Resim
İsim:
Optical and Morphological Properties of Cu2FeSnS4 Chalcogenide Films.pdf
Boyut:
939.19 KB
Biçim:
Adobe Portable Document Format
Açıklama:
Makale dosyası
İndir
Lisans paketi
Listeleniyor 1 - 1 / 1
[ X ]
İsim:
license.txt
Boyut:
1.44 KB
Biçim:
Item-specific license agreed upon to submission
Açıklama:
İndir

Koleksiyon

Fen Bilimleri Enstitüsü Makaleler
TR-Dizin İndeksli Yayınlar Koleksiyonu