Sb2S3 İnce Filmlerinin Yapısal ve Optik Özellikleri

Bu çalışmaya konu olan antimon sülfür ince filmler ultrasonik sprey piroliz tekniği kullanılarakhazırlanmıştır. Farklı alttaş sıcaklığına bağlı olarak hazırlanan antimon sülfür ince filmlerin optik veyapısal özellikleri sırasıyla UV-vis spektrofotometri ve XRD analizi kullanılarak incelenmiştir. Bu şekildealttaş sıcaklığını değiştirerek optik ve yapısal özelikleri kontrol etmek mümkün olmuştur. Filmlerin optiközellikleri, UV-vis spektrometresi kullanılarak enerji bant aralığı ölçümleri ile analiz edildi. 275, 300 ve325 °C’ de yapılan ve tavlanmamış filmler için enerji bant değerleri sırasıyla 2.36, 2.47 ve 1.84 eV olarakbulunurken, 500 °C’de sülfür ortamında tavlanan filmler için enerji bant değerleri sırasıyla 1.73, 1.76 ve1.77eV olarak bulundu. Bütün yönelimler için mikro yapı (e), düzlemler arası mesafe (d), kristalbüyüklüğü (D) ve dislokasyon yoğunluk (?) XRD analizi kullanılarak belirlendi.