Browsing by Author "Çelik, Ömer"
Now showing items 1-6 of 6
-
Crystal and molecular structure analysis of dichloro [1,3-bis-(2-ethoxybenzyl) benzimidazole-2-ylidene] pyridine palladium (II) AND Dichloro - [1-(2,3,4,5,6-pentametilbenzil) -3- (2,3,5,6 tetrametil) benzimidazol -2- yliden] Ruthenium (II) by single crystal x-ray diffraction technique
Hasan, Sirwan Salih (2016)Bu tez kapsaminda yapilan temel çalişma, X-Işınlarınları kristalografi çalışmasıdır. Içerik olarak, kimyasal formülleri arasinda siralanmis, Dichloro[1,3-bis-(2-ethoxybenzyl)benzimidazole-2-ylidene] pyridine palladium(II) ... -
Değişik gerilim uygulayarak elde edilen Si/anodik oksit/Al yapılarının arayüzey durum yoğunluklarının araştırılması çalışmaları
Çelik, Ömer (Dicle Üniversitesi, Fen Bilimleri Enstitüsü, 1998)Bu çalışmada, (100) yönlü p-tipi ve özdirenci 14-26 Q.cm olan silisyum tek kristali kullanıldı. Bu kristalden dört örnek (a,b,c,d) hazırlandı. Kristallerin parlatılmış yüzü sabit gerilim koşulları altında anodik oksidasyon ... -
The influence of Ge substitution and H2S annealing on Cu2ZnSnS4 thin films
Ava, Canan Aytuğ; Ocak, Yusuf Selim; Asubay, Sezai; Çelik, Ömer (Elsevier, 2021)Cu2Zn(Sn1-xGex)S-4 thin films (where x = 0, 0.25, 0.50, 0.75, and 1) were deposited by spin coating technique and annealed under 30 and 40 ccm H2S:Ar (1:9) flows to understand the influence of Ge atom content ratio and H2S ... -
Sb doping influence on structural properties of ZnO thin films
Çelik, Ömer; Baturay, Şilan; Ocak, Yusuf Selim (Institute of Physics Publishing, 2020)Pure and Sb doped ZnO thin films were homogeneously prepared at room temperature on the soda-lime glass substrates (SLG) via the spin coating technique. The effects of the Sb ratio on structural properties, morphological ... -
TaN ince filmlerde kalıntı gerilme ve tercihli yönelim analizi
Anğay, Fırat (2019)Bu çalışmada radyo frekansı (RF) reaktif magnetron saçtırma tekniğiyle farklı film üretim parametrelerinde biriktirilen tantalum nitrür (TaN) ince filmlerde biriken kalıntı gerilmelerin film üretim koşullarına göre değişimi, ... -
Temperature dependent electrical characterization of NiO/n-Si heterojunction
Omar, Savin Haji (Dicle Üniversitesi, Fen Bilimleri Enstitüsü, 2015)Bu çalışmada, NiO/n-Si heteroeklemin elde edilmesi ve sıcaklığa bağlı elektriksel özelliklerinin belirlenmesi amaçlanmıştır. Bu amaçla, n-Si yarıiletken ve cam üzerine NiO ince filmleri radio frekansı (RF) reaktif saçtırma ...
