Arşiv logosu
  • Türkçe
  • English
  • Giriş
    Yeni kullanıcı mısınız? Kayıt için tıklayın. Şifrenizi mi unuttunuz?
Arşiv logosu
  • Koleksiyonlar
  • Sistem İçeriği
  • Analiz
  • Talep/Soru
  • Türkçe
  • English
  • Giriş
    Yeni kullanıcı mısınız? Kayıt için tıklayın. Şifrenizi mi unuttunuz?
  1. Ana Sayfa
  2. Yazara Göre Listele

Yazar "Ava, Canan Aytug" seçeneğine göre listele

Listeleniyor 1 - 2 / 2
Sayfa Başına Sonuç
Sıralama seçenekleri
  • [ X ]
    Öğe
    Crystal structure and synthesis of two complexes: bis[(2-aminobenzamide)(benzoate)]copper(II) and bis[(2-aminobenzamide)(benzoate)]cobalt(II)
    (Int Union Crystallography, 2015) Ava, Canan Aytug; Celik, Omer; Kiyak, Tuba; Arslan, Akif; Aslantas, Mehmet
    [Abstract Not Available]
  • [ X ]
    Öğe
    Deposition and Characterization of Si Substituted Cu2ZnSnS4 Thin Films
    (Springer, 2023) Ava, Canan Aytug; Ocak, Yusuf Selim; Celik, Omer; Asubay, Sezai
    The influence of the Si substitution ratio on the structural, morphological, and optical properties of Cu2ZnSnS4 (CZTS) thin films was examined. The Cu2Zn(SixSn1-x)S-4 thin films (x = 0, 0.25, 0.50, 0.75, and 1) were deposited on soda-lime glasses by spin coating technique and annealed in a quartz tube at 550 degrees C under H2S:Ar (1:9) flows. The X-ray diffraction (XRD) patterns showed that the crystal sizes of CZTS thin film decreased rapidly from 30 nm to 19 nm after the substitution of 25% Si to the Sn sites (Cu2Zn(Si0.25Sn0.75)S-4 thin films) and increased to the same range after increasing the Si substitution ratio. It was attributed to the highest dislocation density and strain values of the film after partial Si substitution to the structure. It was also reported that the Si substitution for Cu2ZnSnS4 (CZTS) structure shifted both main XRD (from 28.51 to 28.62 degrees) and Raman peaks (from 332 to 334 cm(-1)). Furthermore, the strong influence of Si addition on the optical properties of the films was examined. It was seen that the optical band gap of CZTS increases from 1.51 to 3.22 eV with the increase in Si ratio.

| Dicle Üniversitesi | Kütüphane | Açık Erişim Politikası | Rehber | OAI-PMH |

Bu site Creative Commons Alıntı-Gayri Ticari-Türetilemez 4.0 Uluslararası Lisansı ile korunmaktadır.


Dicle Üniversitesi, Diyarbakır, TÜRKİYE
İçerikte herhangi bir hata görürseniz lütfen bize bildirin

Powered by İdeal DSpace

DSpace yazılımı telif hakkı © 2002-2025 LYRASIS

  • Çerez Ayarları
  • Gizlilik Politikası
  • Son Kullanıcı Sözleşmesi
  • Geri Bildirim